لقد تمت الاضافة بنجاح
تعديل العربة إتمام عملية الشراء
×
كتب ورقية
كتب الكترونية
كتب صوتية
English Books
أطفال وناشئة
وسائل تعليمية
متجر الهدايا
شحن مجاني
اشتراكات
بحث متقدم
نيل وفرات
حسابك لائحة الأمنيات عربة التسوق نشرة الإصدارات
0

Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in


Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in
89.00$
الكمية:
شحن مخفض
Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in
تاريخ النشر: 19/06/2008
الناشر: VDM Verlag Dr. Mueller e.K.
النوع: ورقي غلاف عادي
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 15×23
عدد الصفحات: 176
مجلدات: 1
ردمك: 9783639024616
Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in
Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in

تاريخ النشر: 19/06/2008
الناشر: VDM Verlag Dr. Mueller e.K.
النوع: ورقي غلاف عادي
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 15×23
عدد الصفحات: 176
مجلدات: 1
ردمك: 9783639024616
89.00$
الكمية:
شحن مخفض
Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in

  • الزبائن الذين اشتروا هذا البند اشتروا أيضاً
  • الزبائن الذين شاهدوا هذا البند شاهدوا أيضاً

أبرز التعليقات
أكتب تعليقاتك وشارك أراءك مع الأخرين.