لقد تمت الاضافة بنجاح
تعديل العربة إتمام عملية الشراء
×
كتب ورقية
كتب الكترونية
كتب صوتية
English Books
أطفال وناشئة
وسائل تعليمية
متجر الهدايا
شحن مجاني
اشتراكات
بحث متقدم
نيل وفرات
حسابك لائحة الأمنيات عربة التسوق نشرة الإصدارات
0

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard


Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
159.99$
الكمية:
شحن مخفض
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
تاريخ النشر: 09/12/2010
الناشر: Springer
النوع: ورقي غلاف عادي
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 16×23
عدد الصفحات: 192
مجلدات: 1
ردمك: 9781441953155
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

تاريخ النشر: 09/12/2010
الناشر: Springer
النوع: ورقي غلاف عادي
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 16×23
عدد الصفحات: 192
مجلدات: 1
ردمك: 9781441953155
159.99$
الكمية:
شحن مخفض
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

  • الزبائن الذين اشتروا هذا البند اشتروا أيضاً
  • الزبائن الذين شاهدوا هذا البند شاهدوا أيضاً

أبرز التعليقات
أكتب تعليقاتك وشارك أراءك مع الأخرين.