VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
تاريخ النشر: 22/12/2017
الناشر: Springer
ترجمة: Brajesh Kumar Kaushik
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 16×23
عدد الصفحات: 840
مجلدات: 1
يحتوي على: صور/رسوم
ردمك: 9789811074691