VLSI Design and Test : 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
تاريخ النشر: 10/12/2013
الناشر: Springer
ترجمة: Manoj Singh Gaur
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 16×23
عدد الصفحات: 406
مجلدات: 1
يحتوي على: صور/رسوم
ردمك: 9783642420238